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3D高精度坐标测量机、电容传感器、感应传感器(涡流传感器),光学干涉仪ARINNA、...

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IBS光学干涉仪ARINNA AR2
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产品: 浏览次数:3IBS光学干涉仪ARINNA AR2 
品牌: IBS Precision Engineering
最小起订量:
有效期至: 长期有效
最后更新: 2022-04-12 17:54
 
详细信息
 IBS光学干涉仪ARINNA AR2
 
 
 ARINNA能够测量离散的步高和表面质量,垂直分辨率为 <2nm。巨型像素摄像头可在 1 秒内捕获表面扫描。可用于在线缺陷检测和特征化、光学表面和结构测量、3D表面拓扑测量、MEMS/NEMS 检测等。
 
 
印刷电子生产线- AR5 系统已集成到生产用于汽车应用的印刷电子的生产线中。根据公差值评估 100 纳米到 1 微米深度的激光划线,以控制激光工艺。
 
AR2
 
Z 范围 (μm) 96
李银
QQ:3636923259  点击这里给我发消息
手机:17150029804
电话:010-64714988-222
传真:010-64714988-668
邮件:tk6@handelsen.cn
李银邮箱:tk6@handelsen.cn电话:010-64714988-222 李银微信二维码
每次捕获 FOV (毫米) 2,8 x 2,8。
Z 分辨率 (μm) 0,002
结果时间(秒) 1,5 (0,9 测量 +0,6 计算)
工作距离(毫米) 34
分辨率为 15kHz 有色 0,007%,有色 0,009%
零/偏移调整 是的
典型的热漂移 0,01% F.S.*/C
LED 范围指示器 是的
其他功能 带宽:100 赫兹、1 kHz、10 kHz、15 kHz(用户可选)
 
 
 DM_20211117150330_003